Photonik

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confovis · Industrien · Photonics

Photonik und die Weiterentwicklung von Photonisch integrierter Schaltkreise

Die Photonik, die Wissenschaft von der Manipulation und Erkennung von Photonen, hat die Industrie von der Telekommunikation bis hin zum Gesundheitswesen revolutioniert. Das Herzstück dieser Innovation sind Photonische Integrierte Schaltkreise (Photonic Integrated Circuits – PICs). Wie elektronische integrierte Schaltkreise, die jedoch Photonen (Licht) statt Elektronen verwenden, integrieren PICs Komponenten wie Laser, Modulatoren und Detektoren auf einem einzigen Chip.

Diese kompakten Bauelemente werden in der Regel aus Materialien wie Silizium (Si), Indiumphosphid (InP) oder Siliziumnitrid (SiN) hergestellt und bieten folgende Vorteile:

Da sich die Industrie zunehmend auf PICs verlässt, steigt die Nachfrage nach hochpräzisen Prüf- und Messinstrumenten zur Gewährleistung ihrer Qualität rapide an.

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PIC-Produktion und die Rolle von Defekterkennung und Messtechnik

Defektinspektion und Messtechnik sind entscheidend für die erfolgreiche Produktion von PICs. Die modernen AOI-Systeme von Confovis gewährleisten die Qualität, Zuverlässigkeit und Leistung von Halbleiterbauelementen, die in integrierten photonischen Anwendungen eingesetzt werden.

Durch den Einsatz modernster Technologien, einschließlich hochauflösender Bildgebung und künstlicher Intelligenz, tragen wir zu einer hohen Ausbringung bei. Gleichzeitig werden die Produktionskosten gesenkt und die Markteinführung von innovativen Photonik Produkten beschleunigt.

PIC-Inspektion und -Messtechnik mit Confovis

Confovis bietet modernste AOI- und Metrologie-Tools, die speziell für die PIC-Inspektion auf Wafer- und Bauelemente-Ebene entwickelt wurden.

Dank unserer umfassenden Erfahrung in der Halbleiterindustrie verfügen wir über das Fachwissen, um Sie dabei zu unterstützen, Ihre Entwicklungszeit zu verkürzen und konsistente Produkte mit hohem Ertrag zu erzielen.

Unsere WAFERinspect-Systeme bieten:

Confovis Technologien für PIC

Die WAFERinspect-Systeme nutzen die bei den AOI-Scans gewonnenen hochauflösenden Daten für 2D- und 3D- Messungen von allen Defekten und Anomalien.

Metrologie

Hochpräzise Messungen: Präzise Dimensionsanalyse von kritischen Strukturen wie Wellenleitern und Kopplern.

2D/3D-Messtechnik: Gleichzeitige 2D- und 3D-Messungen für eine umfassende Oberflächen- und Dimensionsprüfung.

Skalierbarkeit: Lösungen für Forschung und Entwicklung sowie für große Produktionsumgebungen.

Inspektion

Defekt-Erkennung: KI-gestützte Systeme erkennen selbst kleinste Fehler, die die Leistung von PICs beeinträchtigen können.

Identifizierung von Anomalien: Erfassen von Defekten in einem frühen Stadium des Prozesses, um Nacharbeit zu reduzieren, Kosten zu minimieren und die Ausbringung insgesamt zu verbessern.

 

Flexibilität: Anpassbare Lösungen, die auf die spezifischen Anforderungen verschiedener PIC-Fertigungsprozesse zugeschnitten sind.

WAFERinspect Metrology & Inspection Tool für die Photonik

Angesichts der dynamischen Welt der photonischen integrierten Schaltkreise ist die Sicherstellung höchster Qualität und Leistung von entscheidender Bedeutung. Confovis bietet die Tools und das Fachwissen, um Sie bei der Optimierung der Produktion, der Verbesserung der Ausbringung und der Steigerung der operativen Leistung zu unterstützen.

Kontaktieren Sie uns und erfahren Sie, wie unsere fortschrittlichen AOI- und Messlösungen Ihnen helfen können, bei der Produktion von photonischen integrierten Schaltkreisen höchste Produktqualität und Effizienz zu erreichen.

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