Aufbauend auf den Anforderungen verschiedenster Messaufgaben entwickelt Confovis optische 3D-Messsysteme zur Messung und Auswertung von Oberflächenbeschaffenheiten. Die optischen Oberflächenmessgeräte lassen sich dank des modularen Aufbaus hinsichtlich Hardware und Software an den Kundenbedarf anpassen. Zudem bietet das optische 3D Messverfahren von Confovis gegenüber anderer 3D Oberflächenmesstechnik eine hohe Datenqualität und Messgeschwindigkeit und kann so selbst unbekannte Materialien nanometergenau erfassen.
3D-Oberflächenmesstechnik zugeschnitten auf Ihre Messaufgabe: mit den optischen 3D-Oberflächenmessgeräten von Confovis werden Ihre Messaufgaben erfolgreich und zugleich automatisiert gelöst.
Die patentierte Confovis Technologie basiert auf dem konfokalen optischen 3D-Messverfahren der „Structured Illumination Micropscopy“ (SIM), das im Gegensatz zu anderen Messverfahren (wie z.B. Laser Scanning Mikroskopie oder andere Verfahren der Oberflächenmesstechnik) eine höhere Messgeschwindigkeit und bessere Datenqualität aufweist. Das SIM-Messverfahren wird für Formmessungen und Messungen weiterer geometrischer Merkmale durch Fokusvariation optimal ergänzt.
Die optischen Messsysteme von Confovis messen so selbst anspruchsvolle Oberflächen und Materialkombinationen nanometergenau.
Defekterkennung und dimensionale Messungen von Wafer-Strukturen
Auf Normen rückführbare Rauheitsmessungen
Normgerechte Analyse von Mikro- und Makrodrall
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confovis GmbH
- Schnelle und präzise Analyse anspruchsvoller Oberflächen
- Hohe vertikale Auflösung bis in den einstelligen Nanometerbereich
- Hoher Automatisierungsgrad unserer Messsysteme
