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3D-Oberflächenmesstechnik zugeschnitten auf Ihre Messaufgabe: mit den optischen 3D-Oberflächenmessgeräten von Confovis werden Ihre Messaufgaben erfolgreich und zugleich automatisiert gelöst.

Die patentierte Confovis Technologie basiert auf dem konfokalen optischen Messverfahren der „Structured Illumination Micropscopy“ (SIM), das im Gegensatz zu anderen Messverfahren (wie z.B. Laserscanning-Mikroskopie oder andere Verfahren der Oberflächenmesstechnik) mit seiner Messgeschwindigkeit und Datenqualität überzeugt. Das SIM-Messverfahren wird für Formmessungen und Messungen weiterer geometrischer Merkmale durch Fokusvariation optimal ergänzt.

Die optischen Messsysteme von Confovis messen so selbst anspruchsvolle Oberflächen und Materialkombinationen nanometergenau.

Messung Oberflächenrauheit mit Confovis

Defekterkennung und dimensionale Messungen von Wafer-Strukturen​​

Messung von Oberflächenrauhigkeit mit Confovis

Auf Normen rückführbare Rauheitsmessungen

Oberflächenrauheit und Drall mit Confovis messen

Normgerechte Analyse von Mikro- und Makrodrall

Messaufgaben der Oberflächenmesstechnik
3D Oberflächenmesstechnik für tribologische Oberflächen
Messaufgaben MEMS Strukturen
Messmöglichkeiten Defekterkennung

Aufbauend auf den Anforderungen verschiedenster Messaufgaben entwickelt Confovis optische 3D-Messsysteme zur Messung und Auswertung von Oberflächenbeschaffenheiten. Die optischen Oberflächenmessgeräte lassen sich dank des modularen Aufbaus hinsichtlich Hardware und Software an den Kundenbedarf anpassen.

Oberflächenmessgeräte für verschiedenste Messaufgaben

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