Aufbauend auf den Anforderungen verschiedenster Messaufgaben entwickelt Confovis optische 3D-Messsysteme zur Messung und Auswertung von Oberflächenbeschaffenheiten. Die optischen Oberflächenmessgeräte lassen sich dank des modularen Aufbaus hinsichtlich Hardware und Software an den Kundenbedarf anpassen.
3D-Oberflächenmesstechnik zugeschnitten auf Ihre Messaufgabe: mit den optischen 3D-Oberflächenmessgeräten von Confovis werden Ihre Messaufgaben erfolgreich und zugleich automatisiert gelöst.
Die patentierte Confovis Technologie basiert auf dem konfokalen optischen Messverfahren der „Structured Illumination Micropscopy“ (SIM), das im Gegensatz zu anderen Messverfahren (wie z.B. Laserscanning-Mikroskopie oder andere Verfahren der Oberflächenmesstechnik) mit seiner Messgeschwindigkeit und Datenqualität überzeugt. Das SIM-Messverfahren wird für Formmessungen und Messungen weiterer geometrischer Merkmale durch Fokusvariation optimal ergänzt.
Die optischen Messsysteme von Confovis messen so selbst anspruchsvolle Oberflächen und Materialkombinationen nanometergenau.
Defekterkennung und dimensionale Messungen von Wafer-Strukturen
Auf Normen rückführbare Rauheitsmessungen
Normgerechte Analyse von Mikro- und Makrodrall
