[wpseo_breadcrumb]

Mit dem OEM-Modul bietet Confovis sein patentiertes optische Messverfahren (Structured Illumination Microscopy)  Herstellern von Messmaschinen und Inspektionssystemen für Rauheitmessungen sowie Mikrokonturvermessungen. Das Modul verwendet weder Laserabtastung noch bewegliche Bauteile (wie Spiegel oder Multi-Pinhole-Disks), was es resistent gegenüber Erschütterungen macht. Daher ist es wartungsfrei und erzielt dauerhaft erstklassige Ergebnisse. Die 3D-Abtastung erfolgt in Fokus-Ebenen mittels einer strukturierten Beleuchtungssequenz. Im Gegensatz zu bestehender konfokaler Messtechnik scannt das Confovis OEM-Modul eine Fläche nicht Punkt für Punkt bzw. Linie für Linie, sondern flächig – mit einer Datenqualität, durch die Standardabweichungen bei Rauheitsmessungen (zum Beispiel am Halle KNT 4070/03/A3  (Rz 0,45µ)) mit denen der physikalischen technischen Bundesanstalt vergleichbar macht. Auch empfindliche Oberflächen wie Polyamid Filme oder Diamantschichten können gemessen werden. Das System ist in der Lage unbekannte Oberflächen, ohne Zusatzwissen rückführbar auf allgmeingültige Standards und Normen zu messen.

  • Robust und keine beweglichen Teile im Messkopf
  • C#-Software mit Plug-Ins ermöglicht eine einfache Bereitstellung einer Software-API für den Integrator
  • Rauheitsmessungen rückführbar auf etablierte Normen wie DIN EN ISO 4287 und 13565

Messung von Mikrostrukturen in der MEMS-Fertigung

Messung von Displaygläsern und Sensoren

Messung von Rauheit an komplexen Geometrien (wie Zerspanungswerkzeugen)

Messung von Mikrokonturen (wie Schneidkanten)

  • Artefaktfreie Messung von beliebigen Strukturen durch patentierte Messtechnik mittels LED Licht
  • Konfokales Messverfahren und Fokusvariation ergänzen sich optimal
  • Hohe Messgeschwindigkeit durch Echtzeitfähigkeit der Steuerung
  • Hoher Dynamikumfang ermöglicht die Messung von unterschiedlichen Werkstoffkombinationen
  • Bedienerfreundliche, intuitive Mess-Software von Confovis
  • Zusätzliche Auswertung über etablierte Analyse-Software
  • Wartungsfreie Hardware durch Verzicht auf bewegliche Teile im Messkopf
  • Unterstützung aller gängigen 3D-Ausgabeformate
  • Rauheitsmessung auf KMG
  • Rauheitsmessung in Wellenmessgeräten
  • Verschleißmessung in Tribometern
  • Wafer Messsysteme

Sie haben Fragen oder möchten mehr Informationen? Kontaktieren Sie uns!



*Pflichtfelder
Hiermit bestätige ich, dass ich die Datenschutzerklärung gelesen habe.