Der Einstieg für Studierende
Für Studierende
Du bist Bachelor- oder Master-Student (m/w/d) und auf der Suche nach einem Praxis-Partner für deine Abschlussarbeit oder möchtest neben deinem Studium praktische Erfahrungen sammeln?
Wir bieten dir die Möglichkeit mit einer Tätigkeit als Praktikant, Werkstudent oder Bachelorand/Masterand (m/w/d) bei uns einzusteigen.
Als Praktikant oder Werkstudent unterstützt du uns über einen längeren Zeitraum im Tagesgeschäft und übernimmst eigene Aufgaben und Projekte. Dabei steht dein Studium im Vordergrund und du kannst deine Arbeitstage und -zeiten flexibel anpassen.
Als Bachelorand/Masterand schreibst du deine praxisorientierte Abschlussarbeit bei uns. Wir haben permanent verschiedene Themen in den Bereichen Software und Konstruktion/Optik ausgeschrieben.
Spannende, eigenverantwortliche Aufgaben und Projekte.
Ein angenehmes Arbeitsklima in einem jungen, dynamischen Team.
Flache Hierarchien.
Die Chance, nach dem Studium als festes Teammitglied einzusteigen.
Flexible Vereinbarkeit von Studium und deiner Tätigkeit bei uns.
Du bist eingeschriebener Student.
Hohe Motivation und Leistungsbereitschaft.
Selbstständiges Arbeiten, Zuverlässigkeit und eine gute Auffassungsgabe.
SciTec: Mikrotechnologie, Laser- oder Optotechnologien, Werkstofftechnik, Feinwerktechnik
Maschinenbau, Elektrotechnik oder Informationstechnik
Mathematik, Informatik, Automatisierung
Naturwissenschaften: Physik, Chemie
Wirtschaftswissenschaften
Aktuelle Abschlussarbeiten
Hardware
Confovis AOI-Systeme basieren auf einer hochpräzisen Positionierung in mehreren Achsen. Wichtige Kriterien dieser Positioniersysteme sind mechanische Stabilität, Kontrolle der dynamischen Eigenschaften, Achsausrichtung und thermische Stabilität. Anspruchsvolle Inspektionsanwendungen erfordern integrierte Positionierlösungen und geeignete Regelungstechnik. Zu den Aufgaben gehören die mechanische Konzeption und Konstruktion sowie die Entwicklung von Prüf- und Einrichtungslösungen.
Für hochpräzise Positionieranwendungen ist die optimale Einstellung der Regelparameter entscheidend, wobei sich die Übertragungsfunktion mechanischer Systeme oft im Laufe der Zeit ändert. Um die notwendige Präzision und Dynamik über die gesamte Lebensdauer eines Systems aufrechtzuerhalten, muss die Reglung entweder über genügend Reserven verfügen um Änderungen auszugleichen, oder es wird ein adaptives Regelung benötigt, die Änderungen in der Übertragungsfunktion erkennt und ausgleicht. Unser Ziel ist es, die Reserven zu verstehen und geeignete Regelparameter zu finden sowie Konzepte für eine adaptive Regelung zu entwickeln und zu implementieren.
Die Synchronisierung von Bildaufnahme, Beleuchtung und Positionsauslesung ist entscheidend für eine schnelle und zuverlässige Inspektion von Wafern. Verschiedene Hilfskomponenten müssen koordiniert, ausgelesen und überwacht werden. Maßgeschneiderte integrierte Elektronik hat hier das Potenzial, zuverlässige sowie platz- und kosteneffiziente Lösungen zu bieten. Themen für Praktika und Diplomarbeiten sind u.a. die Entwicklung von Konzepten und der Bau von kundenspezifischer Elektronik zur Bauteilsteuerung und Synchronisation der Bilderfassung.
Software
Mit unseren konfokalen Messsystemen wird eine Probe in mehreren Ebenen abgescannt und der Kontrast zwischen den aufeinanderfolgenden Bildern berechnet. Daraus resultiert schließlich eine Kontrastkurve mit (mindestens) einem Maximum. Durch Messstörungen oder optische Effekte ist das Maximum nicht immer eindeutig definiert und Fehler in dessen Bestimmung resultieren in Messfehler. Mit der Verfügbarkeit einer Vielzahl dieser Kontrastkurven ist das Ziel der Arbeit zu ermitteln inwiefern KI genutzt werden kann, um das Maximum zuverlässig zu bestimmen.
Die automatische Inspektion von Wafern in der Halbleiterproduktion ist ein wachsender Geschäftszweig. Bei dieser Aufgabe geht es darum, basierend auf Graubildern der Wafer eine Qualitätseinschätzung abzugeben. Basierend auf Bildern und der Bewertung von Experten soll ein KI-gestütztes Model entwickelt werden, das eine Bewertung der Wafer ausschließlich anhand eines Graubildes ermöglicht.
Aufgrund der eingesetzten Objektive und der Belichtung kommt es zu optischen Artefakten (zum Beispiel Bildfeldwölbung). Diese Artefakte resultieren in Messungenauigkeiten des optischen Verfahrens und müssen korrigiert werden. Diese Korrekturen sind mathematisch komplex und aufwendig und bieten daher Potential zur Optimierung.
Die Erkennung von Defekten in der Halbleiterproduktion ist ein wichtiges Instrument zur Qualitätssicherung. Wir entwickeln und produzieren Systeme zur automatischen Detektion von verschiedenen Defekten auf Wafern. Die Herausforderung ist, dass sich verschiedene Defekttypen je nach Beleuchtung unterschiedlich darstellen. Ziel dieser Aufgabe ist es, die Beleuchtungsparameter so zu optimieren, dass möglichst viele Defekte erkannt werden.
Wafer-Substrate sind nur in der idealen Welt 100%-ig flach. In der Realität weisen diese oft ein so genanntes Bending oder Warpage auf, welches die Notwendigkeit einer automatisierten Fokusnachführung während einer Scan-Messung aufwirft. Eine Möglichkeit, dem zu begegnen, ist die Aufnahme eines Fokus-Rasters vor der Wafer-Messung. Die Aufnahme eines solchen Fokusrasters benötigt mehrere Eingangsparameter und Annahmen, welche die Dimensionen des Wafers und die verwendete Beleuchtungsoptik betreffen. Ziel soll es sein, all die verfügbaren Wafer- und Maschinenparameter heranzuziehen, um auf dynamische Weise die notwendige Frequenz und die Positionierung des Rasters vor der Ausführung festzulegen.
Interessierst du dich für eines unserer Themen oder hast du eigene Themenvorschläge?
Dann sende uns deine Bewerbungsunterlagen zu, bestehend aus deinem Lebenslauf, relevanten Zeugnissen und einem Anschreiben, in dem du dein Wunschthema und möglichen Startzeitpunkt nennst.
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