Aktuelles

100. Messsystem ausgeliefert

Confovis: 100. Messsystem ausgeliefert Ende 2021 wurde mit dem AOI System WAFERinspect AOI das insgesamt 100. Messsystem in der 12-jährigen Unternehmensgeschichte der Confovis GmbH an einen Kunden aus dem Halbleiterbereich ausgeliefert. Mit dem WAFERinspect AOI bietet Confovis ein Tool…
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Erweiterung des Produktportfolios: WAFERinspect AOI

Confovis erweitert sein Produktportfolio mit dem WAFERinspect AOI Defekterkennung und Metrologie in einem System​ Mit dem Messsystem WAFERinspect AOI erweitert Confovis seine WAFERinspect Produktreihe um ein AOI Tool, das Defect Inspection, Defect Review sowie 2D- und 3D-Messungen in einem…
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Integrierte optische Messsysteme von Confovis

Integrierte optische Messverfahren für eine produktionsnahe 3D Oberflächenvermessung

Integrierte optische Messverfahren für die 3D Oberflächenmessung Vom 07. bis 10. Mai 2019 zeigt die Confovis GmbH ihre optischen 3D Oberflächenmesssysteme auf der Control in Stuttgart – der internationalen Messe für Qualitätssicherung. Die, auf Kunden- und Branchenanforderungen maßgeschneiderten, Messsysteme…
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Wafer Analyse mit Confovis

Das Schweizer Taschenmesser für die Wafer-Analyse

Das Schweizer Taschenmesser für die Wafer-Analyse Der Messtechnik-Spezialist Confovis GmbH aus Jena präsentiert ein vollautomatisches Messsystem für die Wafer Inspection (MEMS, Standard, Thin, Taiko, Warped, Frame, etc.). Das Messsystem kombiniert dabei konfokale 3D-Messungen, klassische 2D-Messungen sowie visuelle Inspektion miteinander,…
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Verschleißmessung mit Confovis

Verschleißmessung an Zerspanungswerkzeugen

Verschleißmessung an Zerspanungswerkzeugen Dank der patentierten Konfokalmikroskopie auf Basis der Structured Illumination Microscopy (SIM) können spiegelnde Flächen (wie z.B. beschichtete Schneidkanten) gemessen und mit der bewährten Fokusvariation steile Flanken von Werkzeugschneiden erfasst werden. Durch Fusion aus beiden 3D-Punktewolken, die…
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Prozessüberwachung in der Dioden-Herstellung mit Confovis

Messtechnik erlaubt schnelle Prozessüberwachung in der Diodenherstellung

Schnelle Prozessüberwachung in der Diodenherstellung Die Confovis GmbH sorgt mit detaillierten Messdaten für umfangreiche Informationen zu der Prozess- und Produktqualität beim Laser-Dioden-Hersteller Lumics GmbH aus Berlin. Dieser brauchte für die Messung von Mikrostrukturen ein Messsystem, das schnell, zuverlässig und…
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Messsystem TOOLinspect von Confovis auf der Hannover Messe 2017

Messsystem TOOLinspect auf der Hannover Messe

Automatisierte optische Messtechnik für umfangreiche Werkzeuganalysen Der Messtechnik-Spezialist Confovis GmbH, Jena, präsentiert sein optisches Messsystem Tool Inspect zur schnellen und automatisierten Vermessung von Werkzeugen und Mikro-Komponenten auf der Hannover Messe 2017. Das Messsystem bietet zwei Messverfahren in einem Messgerät,…
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Qualitätsprüfung additiv gefertigter Bauteile

Qualitätsprüfung additiv gefertigter Bauteile

Berührungslose Qualitätsprüfung additiv gefertigter Bauteile Mittels additiver Fertigungstechnik, wie dem Selektiven-Laser-Sintern, lassen sich Geometrien erstellen, die mit etablierten Herstellungsverfahren nicht realisierbar sind. Die Oberfläche solcher additiv gefertigten Bauteile weist oft eine hohe Rauheit auf und verlangt je nach Einsatz…
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Confovis auf der Control 2015

Integrierte Messsysteme auf der Control 2015

Integrierte optische Messverfahren für eine produktionsnahe 3D Oberflächenvermessung Getreu dem Motto „In der Ausführung flexibel, in der Anwendung hochgenau“ präsentiert die Confovis GmbH ihr erweitertes Produktprogramm an hoch-integrierten Messlösungen auf der Control 2015. Die vorgestellten Messsysteme zur 3D-Analyse von…
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Normgerechte Rauheitsmessung mit Confovis

Neue Dimensionen der optischen Messtechnik: großes Bildfeld für kleines Zeitfenster

Dimensionen der optischen Messtechnik – ConfoGate CGM-100 Das neue optische Portalsystem ConfoGate CGM-100 der confovis GmbH ermöglicht erstmals die normgerechte Rauheitsmessung in mit taktilen Messgeräten vergleichbaren Messzeiten. Es ist für die schnelle optische Qualitätsinspektion im Bereich Automotive, Aerospace sowie…
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Portalsystem zur Fehleranalyse von optischen Linsen

Portalsystem zur Fehleranalyse von optischen Linsen Das Portalsystem mit Schwenk-Drehvorrrichtung ermöglicht die schnelle berührungsfreie Qualitätsprüfung der Oberflächenbeschaffenheit von optischen Linsen bis in den Nanometerbereich. Es erlaubt das freie Schwenken der optischen Fläche um den Krümmungsmittelpunkt. So erfasst das System…
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Automatisierte Wafer Analyse mit Confovis

Automatisierte 3D-Oberflächenanalyse für Wafer

Integrierte optische Messverfahren für eine produktionsnahe 3D Oberflächenvermessung Confovis zeigt das neue Waferinspektionssystem L300, welches eine einfach einzurichtende und sehr flexible, automatische Waferanalyse ermöglicht. Das System eignet sich zur Charakterisierung von Oberflächentexturen und zur Bestimmung von „Critical Dimensions“ und…
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Drallmessung nach Daimler-Norm

Drallmessung nach Daimler-Norm MBN 31007-07

Drall-Messung nach Daimler-Norm MBN 31007-07 Das confovis Portalsystem mit Rotationsvorrichtung misst Oberflächen rotationssymetrischer Bauteile, wie Antriebswellen, hochgenau und in kürzester Zeit. Nach dem Mantelscan generiert die integrierte Analyse-Software MountainsMap® von Digital Surf aus den Daten automatisch Mess-Reports nach der…
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