Aktuelles

Inline wafer inspection and metrology for VCSEL manufacturing The laser diode market is growing fast thanks to applications such as facial recognition in entertainment electronics and LiDAR (light detection and ranging) in automotive applications. Fast and reliable inline quality control of VCSELs manufacturing VCSEL (vertical-cavity surface-emitting laser) is a type of semiconductor laser diode. Contrary…

LiDAR Inspection The semiconductor market linked to autonomous vehicles has more than doubled from 2015 to 2022 and it is expected to continue to grow over the next years representing one of the highest growth segments in the semiconductor industry.  Advanced driver assistance systems (ADAS) and fully autonomous vehicles require the automation of various aspects…

Confovis: 100. Messsystem ausgeliefert Ende 2021 wurde mit dem AOI System WAFERinspect AOI das insgesamt 100. Messsystem in der 12-jährigen Unternehmensgeschichte der Confovis GmbH an einen Kunden aus dem Halbleiterbereich ausgeliefert. Mit dem WAFERinspect AOI bietet Confovis ein Tool mit automatisiertem Wafer-Handling, das neben der Defektinspektion konfokale 3D-Messungen für Halbeiter und MEMS-Anwendungen ermöglicht. Seit 2009…

Confovis erweitert sein Produktportfolio mit dem WAFERinspect AOI Defekterkennung und Metrologie in einem System​ Mit dem Messsystem WAFERinspect AOI erweitert Confovis seine WAFERinspect Produktreihe um ein AOI Tool, das Defect Inspection, Defect Review sowie 2D- und 3D-Messungen in einem einzigen System zusammenbringt. Die Defekterkennung und -auswertung wurde in Zusammenarbeit mit der NeuroCheck GmbH umgesetzt. Erkennung…