Erweiterung des Produktportfolios: WAFERinspect AOI
Confovis erweitert sein Produktportfolio mit dem WAFERinspect AOI Defekterkennung und Metrologie in einem System Mit dem Messsystem WAFERinspect AOI erweitert Confovis seine WAFERinspect Produktreihe um ein AOI Tool, das Defect Inspection, Defect Review sowie 2D- und 3D-Messungen in einem…