Verschleißmessung an Zerspanungswerkzeugen
Verschleißmessung an Zerspanungswerkzeugen Dank der patentierten Konfokalmikroskopie auf Basis der Structured Illumination Microscopy (SIM) können spiegelnde Flächen (wie z.B. beschichtete Schneidkanten) gemessen und mit der bewährten Fokusvariation steile Flanken von Werkzeugschneiden erfasst werden. Durch Fusion aus beiden 3D-Punktewolken, die merkmalsbasiert über die Genauigkeit der Z-Achse hinausgeht, können die Vorteile beider Messverfahren für den Nutzer optimal…
